预订 Study of Defect States in Silicon Carbide 9783659432026
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/ 2013-08-02
图书信息 书号: 9783659432026 作者: Patnaik Padmaja 装帧: 平装-胶订 页数: 200页 出版社: Omnium Gmbh & Co. Kg. 尺寸: 0.9 x 0.6 x 22.8 cm 出版日期: 2013-08-02 重量: 1g 语种: 其它(含多语) 内容简介 Current power electronics world require semiconductor devices w
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